МИКРОСКОП КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ МКД-Р

Предназначен для контроля дефектов фотошаблонов и интегральных схем в технологическом

процессе производства в микроэлектронной промышленности.

Микроскоп позволяет производить наблюдение в проходящем и отраженном свете, в светлом

и темном поле.

Увеличение - от 100 до 500

Пределы перемещения координатного предметного стола……………100 x 100 мм

Габаритные размеры………………………………………………………680 x 425 x 450 мм

Масса основного изделия(микроскопа)………………………………….34 кг